利用机器视觉改善精密和微型部件的测量流程
匹配-Matching | 测量-Measuring精确检测细小的精密部件（例如在制表业中）是一项挑战。瑞士高精度技术专家 Petitpierre 开发出多项先进应用，可在生产过程中对微型机械部件进行清洁和精确测量。MVTec HALCON 为其提供适配的机器视觉算法：通过匹配和轮廓提取等技术，确保实现精确的测量结果。
重复、精确、高速地测量和检测超小型部件，对于制表业以及所有处理微型部件的行业来说都是核心需求，因为这有助于避免生产废品，从而生产出精确的零件。
总部位于瑞士科尔塔约的 Petitpierre SA 是复杂微技术领域的专家，他们致力于借助机器视觉将这一理想变为现实。这家家族企业成立于 1973 年，其产品组合包括用于制表、珠宝、医疗和航空航天行业的复杂测量应用。公司还开发和生产用于高端微技术部件自动化组装的高精度系统及精密制表工具。
Petitpierre 的客户之一是瑞士制表业的旗舰企业 KIF Parechoc。为了全面改进生产工艺并实现自动化，Petitpierre 开发了一种用于精密机械部件的非接触式检测和清洁系统。其目标是优化这些零件的测量，从而将工艺质量提升到全新的水平。他们面临的主要挑战是在苛刻的生产条件下一键快速执行一系列高精度测量。这项挑战可以在 MVTec HALCON 的帮助下克服。
将工艺从洁净室转移到生产设施
过去使用的一些系统是在清洁环境中执行这些测量流程，包括接触式测量。现在，这些流程会直接转移到生产工厂，从而减少工作量并确保工艺链的连续性。要满足各种各样的要求，就必须采用先进的测量技术。机器视觉不仅能以最小的工作量实现整个流程的无缝自动化，还能提高测量过程的速度和精度。
清洁和测量的高效结合 - 由机器视觉提供技术支持的 lumen 和 drop
Petitpierre 实施的解决方案是一套双重系统，将其产品 drop 和 lumen 结合在一起，并通过机器视觉软件为二者提供技术支持。drop 是一种用于精密零件自动清洗和干燥的设备，可确保清洗质量达到最佳可重复性。lumen 是一种远心光学设备，用于对精密微型机械部件进行智能、自动、高精度的测量。第一步，在 drop 中对部件进行清洗和干燥，然后利用真空吸盘转移到 lumen。在这里，集成的机器视觉软件会对其进行自动检测和测量。一旦所有部件均已通过测量过程，测量结果将无缝导出到 KIF Parechoc 质量控制软件，供工艺链的其余环节使用。
通过匹配技术实现高精度测量
MVTec HALCON 是系统内的机器视觉软件。其基于形状的 2D 匹配技术可以精确识别和定位微小部件，以便用真空吸盘拾取并以亚微米级精度进行测量。具体而言，利用“亚像素阈值”技术，可以在亚像素级精度下测量和检测直径、长度、同心度、半径和角度。此外，MVTec HALCON 还有助于对 lumen 系统进行精确的相机标定。
使用 HALCON 精确映射远心光学器件
另一项优势是：MVTec HALCON 能够满足远心光学器件（如 Petitpierre lumen 系统中使用的光学器件）的特殊要求——具有开箱即用的精度。对物体进行 360 度测量意味着不会出现透视失真，从而避免在事后耗费大量时间进行校正。这为实现极高的测量精度提供了基础。
全自动、更快、更精确：所有目标全部实现
“MVTec HALCON 是能够克服我们所面临挑战的理想机器视觉软件。它不仅提供我们需要的检测精度和速度，还能实现完全非接触式的检测。我们现在只需单击一下即可开始整个检测流程，顺利实现加快速度的目标。因此，KIF Parechoc 能够降低成本，让生产效率更上一层楼。” Petitpierre 计量主管 Thomas Majoulet 总结道。